El microscopio metalográfico digital de interferencia diferencial BMM - 100 TIC es un instrumento óptico de detección muy rentable. Se adopta un excelente sistema de imágenes ópticas infinitas, con un iluminador LED de alto brillo incorporado, y se introduce la función de observación microscópica de interferencia diferencial. La cabeza de Observación de fotografía binocular refleja la restauración real de la observación visual y la fusión técnica de la fotografía digital y la micrografía. la imagen de interferencia observada tiene una sensación tridimensional más fuerte y es adecuada para la observación de la morfología superficial de materiales no transparentes, como la morfología microscópica de partículas conductoras de pantalla de cristal líquido. Es un instrumento ideal para la detección de calidad y la investigación estructural en el campo de la fabricación.
Características de rendimiento
★ el producto utiliza un sistema de imágenes ópticas infinitas y lejanas, que puede seleccionar objetivos sin estrés de eliminación de color de campo plano a larga distancia de trabajo, como 5x, 10x y 20x, y coincidir con la interferencia diferencial correspondiente (placa de inserción tic) para la observación microscópica de diferentes multiplicaciones;
★ el sistema de iluminación utiliza dispositivos LED de alto brillo y largas horas de trabajo, que tienen las características de estructura compacta y fácil uso, especialmente adecuados para los requisitos ambientales de detección en línea;
★ utilizando el método de ajuste de altura de la columna, se observa que el rango de espesor de la muestra es mayor.

configuración estándar