Sistema de evaluación de las características de deterioro del aislamiento y migración de ionesUso:
Frente a los envases cada vez más pequeños, ligeros y de alta densidad de los productos electrónicos, los malos fenómenos de aislamiento y la migración de iones causados por factores como la absorción de humedad por condensación son cada vez más prominentes, y el sistema de evaluación del deterioro de la resistencia al aislamiento (migración de iones) está equipado con una caja de pruebas de alta temperatura y alta humedad, que puede monitorear continuamente con alta precisión, evaluar eficientemente y simplemente la vida útil causada por el fenómeno de la migración de iones y los problemas relacionados con el deterioro de la resistencia al aislamiento.
Sistema de evaluación de las características de deterioro del aislamiento y migración de ionesCriterios aplicables:
JPCA-ET04, IPC-TM-650_2.6.3F, IPC-TM-650_2.6.3.1E, IPC-TM-650_2.6.3.4A, IPC-TM-650_2.6.3.6.
Sistema de evaluación de las características de deterioro del aislamiento y migración de ionesEspecificaciones técnicas:
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nombre del producto |
Sistema de evaluación de las características de deterioro del aislamiento y migración de iones |
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modelo |
SIR13 |
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120VSustrato |
250VSustrato |
500VSustrato |
1000VSustrato |
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Departamento de pruebas de sustrato |
Rango de resistencia de prueba |
320Ω-.120TΩ |
320Ω-.2.5TΩ |
320Ω-.250TΩ |
320Ω-.500TΩ |
320Ω-.1000TΩ |
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Número de canales de prueba |
8ch/Sustrato |
16ch/Sustrato |
8ch/Sustrato |
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Cable de conexión |
2Un par de raíces/.Sustrato 4Tipo de línea |
2Un par de raíces/.Sustrato Cable de prueba de carga× 2 |
2Un par de raíces/.Sustrato Cable de carga× 1. cables de prueba× 1 |
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Características eléctricas |
electricidad presión más Cargar Ministerio |
Tensión de carga |
Rango de voltaje1 |
0.10V-.120.00V |
0.1V-.250.0V |
1.0V-.500.0V |
1.0V-.1000.0V |
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Rango de voltaje2 |
0.100V-.12.000V |
- - |
- - |
- - |
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Cargar resolución de configuración |
0.10V/0.001V |
0.1V |
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Precisión básica de carga |
±0.3%/FS |
±0.3%/FS + 0.5V/FS |
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Mayor potencia de salida |
96mW/h |
256mW / 8ch |
300mW/h |
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Número de grupos cargados |
1Grupo..1ch/1Grupo) |
2Grupo..8ch / 1Grupo) |
1Grupo..8ch / 1Grupo) |
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Rango de carga |
2Rango |
1Rango |
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Número de canales de carga |
1ch |
8ch |
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Gran capacidad de carga |
2.0μF / 1ch |
0.47μF / 8ch |
3300pF / 1ch |
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electricidad presión Mostrar Mostrar aparato |
Rango de visualización |
2Rango |
1Rango |
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monitor alcance |
Rango de voltaje1 |
0.00V-.120.00V |
0.0V-.250.0V |
0.0-.500.0V |
0.0V-.1000.0V |
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Rango de voltaje2 |
0.000V-.12.000V |
- - |
- - |
- - |
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Resolución de pantalla |
0.10V/0.001V |
0.1V |
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Precisión básica de la pantalla |
±0.3%/FS |
±0.3%/FS + 0.5V/FS |
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Unidad de División de pantalla |
1ch |
1Grupo o1ch |
1ch |
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Ciclo de visualización |
40 ms |
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Número de canales de visualización |
8ch |
16ch |
8ch |
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electricidad flujo Medición Prueba |
Rango de prueba |
3Rango |
2Rango |
3Rango |
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monitor alcance |
Rango actual1 |
0,00μA-.320.00μA |
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Rango actual2 |
0,0000μA-.3.2000μA |
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Rango actual3 |
0,00nA-.32.000nA |
- - |
0.000nA-.32.000nA |
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Configuración del rango |
320,00μA · 3,2000μA ·32.000nA·automático |
320,00μA·3,2000μA·automático |
320.00μA·3.2000μA·32.000nA·automático |
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Prueba de resolución más pequeña |
Rango actual1 |
10nA |
10nA |
10nA |
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Rango actual2 |
100pA |
100pA |
100pA |
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Rango actual3 |
1pA |
1pA |
1pA |
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Precisión básica de la prueba |
±0.3%/FS |
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Número de canales |
8ch |
16ch |
8ch |
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Ciclo de inclusión de datos |
Regular30 años(más pequeño)/.Cuando los iones migran40 ms(más pequeño) |
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Velocidad de prueba de migración iónica |
40 ms |
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Detección de fugas |
400 μs/h |
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Ciclo de prueba |
40 ms |
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Otras funciones |
Autodiagnóstico |
Diagnóstico de resistencia estándar externa ¿※ sí?Selección |
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Cadenas |
Cuando se abre la puerta de la caja, se prueba la función de interrupción automática ¿※ sí?Selección |
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Detección de desconexión |
Función de detección de desconexión de terminales |
- - |
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Temperatura y humedad incluidas en el tanque de prueba |
Añadir el sustrato de prueba de temperatura y humedad, con la ayuda de3CS·sin llaveEl software es más grande y se puede incluir.4Datos de una ranura ¿※ sí?Selección |
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Temperatura de la muestra incluida |
a través de3CS SMUCada canal puede ser incluido1Un punto ¿※ sí?Selección |
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Gran composición del sistema |
SIR13 |
80ch(10Sustrato) |
160ch(10Sustrato) |
80ch(10Sustrato) |
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SIR13mini |
24 horas(3Sustrato) |
48ch(3Sustrato) |
24 horas(3Sustrato) |
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Departamento de control |
Computadora de control del sistema |
Windows XP Pro. SP2Adecuado paraWindows 2000(...)Pentium 500MHzArriba memoria256MbytesArriba |
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Conexión de la unidad de prueba |
GP-IBOEthernet |
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otros |
Contramedidas para cortes de energía |
Guardar los datos incluidos antes del Corte de energía y continuar incluyéndolos después de la electricidad ¿※ sí?La fuente de alimentación sin cortes de energía debe |
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unidad de control |
Tipo de estructura |
SIR13 |
SMU 10Tipo de ranura dimensiones externas: W430 × H300 × D620¿※ sí?No contiene protuberancias Peso: aproximadamente30kg()SMU 10Cuando las piezas están equipadas) Corriente consumida:5ALos siguientes:100VCuando se usa) |
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SIR13mini |
SMU 3Tipo de ranura dimensiones externas: W220 × H370 × D390¿※ sí?No contiene protuberancias Peso: aproximadamente20 kg()SMU 3Cuando las piezas están equipadas) Corriente consumida:2ALos siguientes:100VCuando se usa) |
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Resistencia al ruido |
1 μsPulso2KV 1Min |
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Resistencia de aislamiento |
DC500V 100MΩArriba |
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Uso de la fuente de alimentación |
AC85V-.264V 50/60Hz |
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Entorno de uso |
temperatura+10℃-.+40℃ humedad75%RHPor debajo (sin rocío) |
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Conservar el medio ambiente |
temperatura-10℃-.+ 60℃ |
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Sistema de evaluación de las características de deterioro del aislamiento y migración de iones imágenes del producto
