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Microscopio electrónico de barrido de emisiones de campo Schottky de ultra alta resolución su8700
Con el desarrollo de la tecnología rápida de adquisición y procesamiento de datos, el microscopio electrónico ha entrado en una era en la que no solo
Detalles del producto
Microscopio electrónico de barrido de emisiones de campo Schottky de ultra alta resolución su8700
Con el desarrollo de la tecnología rápida de adquisición y procesamiento de datos, el microscopio electrónico ha entrado en una era en la que no solo se presta atención a la calidad de los datos, sino también a su proceso de adquisición. Como Sem para la nueva era, el su8700 añade funciones de alto rendimiento, incluida la adquisición automática de datos, sobre la base de la alta calidad de imagen y la Alta estabilidad que atraviesa el microscopio electrónico hitachi.
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- Las fotos del equipo incluyen opciones.
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Características
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Especificaciones
Características
Observación de alta resolución y capacidad de análisis súper fuerte
La pistola de electrones de lanzamiento de campo Schottky de alto brillo de Hitachi puede soportar tanto la observación de ultra alta resolución como el análisis rápido de microbuses. Sin el uso de la Mesa de muestra para reducir la velocidad, todavía se puede realizar una observación de alta resolución con solo una baja tensión de aceleración de 0,1 kv, adaptándose a más escenarios de aplicación. Al mismo tiempo, se puede combinar con una variedad de nuevos detectores y otras opciones ricas para satisfacer más necesidades de observación.
Funciones avanzadas de automatización*
Em Flow creator permite a los clientes Crear flujos de trabajo automatizados para la adquisición continua de imágenes. Em Flow creator define diferentes funciones de Sem como módulos gráficos, como establecer la ampliación, mover la posición de la muestra, ajustar la distancia focal y el contraste de luz y oscuridad, etc. Los usuarios pueden arrastrar con un simple ratón para formar estos módulos en un programa de trabajo en orden lógico. Después de la depuración y confirmación, el programa puede obtener automáticamente datos de imagen de alta calidad y buena reproducibilidad en cada llamada.
Potentes características de visualización e interacción
Soporte nativo de doble pantalla, proporcionando un espacio de operación flexible y eficiente.
Los seis canales se muestran y guardan al mismo tiempo, logrando una observación y adquisición rápida de múltiples señales, trayendo más información.
Escaneo único con soporte máximo de 40.960 × 30.720 píxeles súper altos*
Imágenes de gran campo y píxeles altos
La imagen de la izquierda muestra una imagen de píxeles altos de una muestra de corte ultrafino de rata tomada por un solo escaneo con un campo de visión de unos 120 micras. Ampliar digitalmente simplemente la imagen del área rectangular amarilla para obtener la imagen derecha. La imagen derecha equivale a 20 veces la ampliación digital de la imagen izquierda, que todavía puede confirmar claramente la estructura interna del organelo de las células nerviosas, etc.
Los píxeles de escaneo único su8600 y su8700 pueden alcanzar hasta 40.960 X 30.720.*
* selección
Especificaciones
| Sistema óptico electrónico | Resolución electrónica secundaria | 0,8 nm@15 kV |
|---|---|---|
| 0,9 nm@1 kV | ||
| Ampliación | 20 ~ 2,000,000 x | |
| Pistola electrónica | Fuente electrónica de emisión de campo Schottky | |
| Tensión de aceleración | 0.1 ~ 30 kV | |
| Tensión de aterrizaje* 1, * 3 | 0.01 ~ 7 kV | |
| Haz máximo | 200 nA | |
| Detector | Detector estándar | Detector superior (ud) |
| Detector inferior (ld) | ||
| Detector selectivo* 3 | Detector de electrones de retrodispersión en tubo (md) | |
| Detector electrónico de retrodispersión Semiconductor (pd - bse) | ||
| Detector de bajo vacío de alta sensibilidad (uvd) | ||
| Detector de transmisión de escaneo (stem) | ||
| Selección de accesorios* 2 | Espectrómetro de energía de rayos X (eds) | |
| Detector de difracción de retrodispersión electrónica (ebsd) | ||
| Mesa de muestras | Eje motriz del motor | Motor de 5 ejes |
| Rango de movimiento | ||
| X | 0 ~ 110 mm | |
| Y | 0 ~ 110 mm | |
| Z | 1.5 ~ 40 mm | |
| T | - 5 a 70 grados | |
| R | 360 ° | |
| Sala de muestras | Tamaño de la muestra | Diámetro máximo: 150 mm* 4 |
| Modo de bajo vacío | Rango de vacío | 5 ~ 300 Pa |
- *1
- En modo de desaceleración
- *2
- Detector configurable
- *3
- Selección de elementos
- *4
- Si tiene una mayor demanda de tamaño de muestra, Póngase en contacto con nosotros.
Clasificación de productos relacionados
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- Dispositivo de preprocesamiento de muestras TEM / SEM
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