Principal
Instrumentación
Microscopio metalográfico Leica dm6000m
Microscopio metalográfico del Olimpo gx51
Microscopio de medición de herramientas
Microscopio de herramientas Nikon mm - 800
Serie 378 - microscopía para pruebas de semiconductores
Microscopio metalográfico (claro, campo oscuro, luz polarizada)
Microscopio metalográfico de Cai si axio imager m2m
Microscopio de luz polarizada xpl - 10
Microscopio metalográfico DMI - 4xb
Serie 378 - microscopio combinado
Microscopio de luz polarizada Nikon lv100pol
Serie 176 - microscopía de medición de alta precisión
Microscopio metalográfico Leica dm2500m
Microscopio de herramientas Nikon mm - 400
Microscopio metalográfico Leica dm2700m
Microscopio metalográfico de Cai si axio Ober a1m
Microscopio metalográfico de Cai si (grado de inspección) axiover 40 Mat
Leica microscopio metalográfico invertido dmi5000m
Microscopio metalográfico Leica dm1750m
Microscopio metalográfico Leica dm4000m
¡¡ la operación fue exitosa!